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UM-1超声波测厚仪

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更新时间:2023-03-14 09:04:36浏览次数:171

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产品简介

UM-1超声波测厚仪技术数据工作原理脉冲~回波方式测量范围0.8~300mm取决于所用探头、所测材料、表面状况单位和显示分辨率毫米-0.1英寸-0.01探头零点校准一点校准(用于常规的厚度测量)两点校准(测量曲面壁厚或特殊应用时

详细介绍


UM-1超声波测厚仪技术数据

工作原理

脉冲~回波方式

测量范围

0.8~300mm

取决于所用探头、所测材料、表面状况

单位和显示分辨率

毫米-0.1

英寸-0.01

探头零点校准

一点校准(用于常规的厚度测量)

两点校准(测量曲面壁厚或特殊应用时,可显著提高测量

精度)

V路径修正

自动V声程修正,补偿双晶探头的非线性度


示值误差


±0.1mm (10mm以下)

±0.5% H +0.01 (10mm以上)

注:H为被测物厚度

重复性

±0.1mm

显示屏

128×64点阵液晶屏(42×57毫米), 具有EL背光,可调节对比度, 厚度值数字高度可达13.75毫米

测量刷新频率

常规测量时4Hz,*小值扫查时25Hz

材料声速范围

1000~9999m/s,0.0394~0.3937in/us

数据存储

划分5个数组,可存储500个厚度值

工作语言

中文、英文

电源

两节1.5VAA电池,当电池电量不足时,有低电压提示

操作时间

两节5号电池,使用时间可达200小时

自动关机

5分钟无操作后自动关机

工作温度

-10℃~+50℃,有特殊要求可达-20℃

尺寸

149mm×73mm×32mm (H×W×D)

重量

含电池200g

标准配置

UM系列测厚仪
标配探头
仪器箱
两节碱性电池
耦合剂
操作手册
合格证
装箱单

选配件

橡胶外套;众多可供选择的探头;校准用阶梯试块;耦合剂及高温耦合剂

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