详细介绍
日本得乐测厚规SM114 TECLOCK测厚仪
原理:在一定的面积与一定荷重下,测量出的物件厚度。
指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。
用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。
SM-114技术参数:
指式方式:指针式
测量范围:0-10mm
最小读数:0.01mm
测量深度:120mm
体积大小:(W*D*H)190*23*145mm
重量:250g
广州市华智仪器仪表有限公司 |
参考价 | 面议 |
更新时间:2023-05-29 15:21:37浏览次数:136
联系我们时请说明是制药网上看到的信息,谢谢!
联系方式:吴小姐查看联系方式
日本得乐测厚规SM114 TECLOCK测厚仪
原理:在一定的面积与一定荷重下,测量出的物件厚度。
指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。
用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。
SM-114技术参数:
指式方式:指针式
测量范围:0-10mm
最小读数:0.01mm
测量深度:120mm
体积大小:(W*D*H)190*23*145mm
重量:250g