日立台式显微镜 TM4000 / TM4000 Plus

产品详情：

台式扫描电子显微镜(SEM)全新升级。

我们以“更高画质、更易于使用、更易于观察"为理念，开发出TM4000系列。在此基础上，我们又推出功能更为多样的TM4000Ⅱ系列。
为您提供全新的观察和分析应用。

产品特点：

观察图像3分钟。可迅速获得所需数据，并制作报告。

|| 观察与分析的灵活性

自动获取各类数据。快速切换！

可快速获得元素分布图*2

*1   TM4000PlusⅡ的功能。

*2   选配

|| 使用Camera Navi*的话，就是如此简单

Camera Navi图像让您轻松找到视野，分布图(MAP)功能全程支持您的观察

*   选配：Camera Navi系统

|| 操作简单且快捷

观察图像只需 3 分钟。
可快速观察图像，并导出测试报告。

|| Report Creator可让您轻松制作报告

只需选择图像和模板，就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的报告

|| 即便是绝缘物样品，也无需预处理，就可直接进行观察。

“静电减轻模式"可抑制静电现象

对于容易产生静电的样品，可使用“静电减轻模式"，在抑制静电的状态下进行观察。

只需用鼠标在软件上点击即可切换到“静电减轻模式"。 

|| 可在低真空的条件下进行多种观察

对于容易产生静电的粉末或含水等样品，可结合其目的进行观察。

|| 可在低真空的条件下进行二次电子像（表面形状）观察。

无需预处理，也可以观察绝缘物和含水、含油样品的表面

不仅是观察传统的导电性样品，还可以在无预处理的条件下观察绝缘物和含水、含油样品。可快速进行二次电子像与背散射电子像之间的切换。

|| 高感度低真空二次电子检测器

采用高感度低真空二次电子检测器(UVD)。通过检测由于电子线与残留气体分子之间的碰撞而产生的光，可以观察带有二次电子信息的图像。此外，通过控制该检测器，来检测电子照射所产生的光，可以获得CL信息（UVD-CL：带有CL信息的图像）。 

|| 可支持加速电压20 kV

TM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速电压20 kV。

凭借EDS分析（选配），可进行更高计数率解析。

|| 通过加速电压20 kV，实现EDS元素分布图的高S/N化 

|| Multi Zigzag（选配）

可实现在广域范围内进行SEM观察。

搭配自动马达台，可实现低倍率，高精度，大范围的观察分析。 

|| EM 样品台（选配）

|| 可轻松观察 STEM 图像

与全新开发的 STEM 样品台和高灵敏度低真空二次电子检测器(UVD)配合使用，可轻松观察小倍率 STEM 图像。

可轻松观察薄膜样品和生物样品. 

|| 产品规格：