原位高温X射线反应装置

简 介：

原位高温X射线反应装置（HT-XRD/AS-1200）是一款专门为高温条件下探测样品物相结构变化而设计的原位样品台系统，能够匹配同步辐射X射线衍射和X射线吸收两类光谱表征。该装置系统主要包含有高温炉体装置，水冷系统，温度控制系统（程序控制），样品台等多个部件及相关配件。采用环境场加热方式，确保样品处于恒温点，使用温度1200℃。该原位装置十分适用于研究不同材料在高温变温情况下的物相结构研究，是材料科学领域、能源化学领域等众多研究领域的有力辅助手段之一。

主要特点

1. 该装置系统主要包含有高温炉体装置，水冷系统，温度控制系统（程序控制），样品台等多个部件及相关配件；

2. 该装置可在上海光源进行原位XRD和XAS测试；

3. 该装置采用环场加热方式对样品中心处进行加热，保证样品处的温度均匀；

4. 温度控制范围：RT-1200℃；温度控制精度：±1℃，配备程序控制系统，能够实现远程电脑控制温度；

5. 样品台采用陶瓷加工而成，热电偶采用k型热电偶，置于样品正下方；

6. 样品架可以夹持直径2-15mm的固体样品，且样品架在1200℃的温度下不与硅酸盐材料（Lu2SiO5，Y2SiO5，Gd2SiO5）发生化学反应；

7. 光能量：0.12398nm（约为10kev）角度2θ 8-55度；

8. 装置采用BN陶瓷片和高纯铍窗作为X射线光窗，能够承受不高于2个大气压的气压条件和低真空环境；

9. 配备水冷系统，保证主体反应腔室的温度不高于60℃，保证实验的安全；