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ZHVS-M-AD数显样品台维氏硬度控制测量系统

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更新时间:2023-11-04 09:52:44浏览次数:90

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产品简介

1.高精度数显X-Y样品台,移动精度可达1微米。2.该测量系统可与各种维氏硬度计相配合使用,由升级单机硬度计到维氏硬度测量系统。3.该测量系统和硬度计融合一体;通过计算机控制硬度计,如压头加载、自动转塔台、调节光源亮度(只能与本公司的自动转塔数显(显微)维氏硬度计配套使用)。4.可测量渗碳、渗氮层深,自动生成硬化曲线。5.带有数显千分尺,X轴位置直接进入测量程序。

详细介绍

1. 高精度数显X-Y样品台,移动精度可达1微米。
2. 该测量系统可与各种维氏硬度计相配合使用,由升级单机硬度计到维氏硬度测量系统。
3. 该测量系统和硬度计融合一体;通过计算机控制硬度计,如压头加载、自动转塔台、调节光源亮度(只能与本公司的自动转塔数显(显微)维氏硬度计配套使用)。
4. 可测量渗碳、渗氮层深,自动生成硬化曲线。
5. 带有数显千分尺,X轴位置直接进入测量程序。
6. 适应于显微及维氏硬度计,其试验力可为:1、5、10、30、50公斤。
7. 图像显示清晰,针对标准试样可进行自动测量。
8. 可采用测微尺或硬度块对系统进行硬度自动标定。
9. 可测量样品的长度、角度。
10. 硬度按国标和ASTM标准转换成其他硬度;可进行硬度值统计及硬度不合格报警。
11. 可自动产生试验报告,所有试验数据永远保存,便于历史查询。



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