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商品详情
产品介绍：
NX-20具有的形貌表征能力，完善的设计使其保证了扫描的高精确度和数据的高重复性。高度自动化的软硬件，极大地避免了人为操作的失误和误差，提高了工作效率测量，降低了劳动强度。该仪器具备高速的伺服响应能力，超高的扫描器线性度，极低的闭环检测器噪声水平，和最小的系统热漂移量。作为一款界面友好，操作简便的仪器，NX-20会成为纳米研究领域及相关产业界的得力助手。
为企业研发实验室设计的精确AFM工具
精确测量不同基材的粗糙度
缺陷观察及分析
高分辨电学扫描模式
可高精度观察侧壁的3D扫描模式
提高检测的重复性和高效率
真正的非接触扫描保护了探针，提高了扫描精确度
非接触模式下的扫描速度
双反馈XY扫描器实现了3D扫描
优化的散热部件，系统热偏移业内
低噪音检测器保证了精确的形貌测量
业内噪音水平的位移检测器保证了形貌扫描的精确性
没有压电蠕变效应引起的边缘超调误差
高速扫描过程中的精确高度测量
的正反测量偏离量，小于0.15%
产品图片
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规格参数
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售后保障
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