LED LM-80复叠式老化试验箱 （半导体型）

◆用途及适用范围（可按要求定制）

本试验箱是根据IES LM-80标准，针对LED测试中的老化测试项目而研发的一款专用机台，具有Ts Ta 双路温度独立控制，测试区湿度控制等功能，单一区间内多路模组独立控制，半导体电制冷恒温，双向PID功率调节输出，并可无缝配合积分球测试的全新一代老化测试系统。

◆设备特点

环境温度：能够有效控制LED老化的环境温度，即周围空气温度Ta。

温度显示：能够做到Ts,Ta温度及湿度实时显示功能。

Ts  控制：能够精准控制每一颗LED的Ts。

Ta  控制：能够精准控制周围空气温度Ta，并满足LM-80的Ta不低于TS-5℃。

温度测试：在厂家位置Ts的情况下，能够对每一颗LED灯珠的壳温进行在线式实时监测。

远程监测：能够对每一颗LED灯珠的Ts,Ta进行在线式实时监测，并且传输给远程电脑，做到数据同步和备份。

电流控制：每一颗LED灯珠由独立恒流电流源供电，可单独控制输出电流值，并满足LM-50的±0.3%的偏差要求。

时间采集：对于每一组LED灯珠被点亮的老化时间精确采集，并且符合LM-80老化时间±0.5%的偏差要求。

控制备份：有主从备份计算机，即可实现数据备份，也可实现控制备份。

过温保护：具备完善可靠的温度故障保护停机功能。

模块结构：整体式造型，便于安装、拆卸，采用快速接口，安培方便，提高工作效率。

适用种类：电路板安装形式（直接将灯珠放置在模块上测试）或夹具安装形式（将灯珠放置在夹具上测试），

结构特点：低噪音、安全无泄露、高效低成本、维护便捷、性能稳定。

◆主要技术参数