QFWS-U型射频导纳物位计

射频导纳测量技术是具有优势的物位测量技术，能够实现阻抗和容抗的单独测佩 。通过物理定律计算可得，任何挂料的阻抗和容抗的大小是相等的，所以由挂料产生的影响能够被测量出来并且通过振荡电路的移相，从总的输出中消除。射频导纳技术测量结果精度高， 并且不受探头挂料的影响，是目前使用场合泛的一种测量技术。
传统的电容式物位计，随着物位上涨、物料覆盖探头，电路中探头和介质之间的电容值（导电物料场合）或者探头和管壁之间的电容值（绝缘物料场合）随之增加。由于物位的变化引起了电容桥的失衡，因此电容值的变化取决于被测物料的介电常数。然后通过对信号的检波、放大，最后输出相应的信号。但由于结晶以及挂料的影响，电容式物位计无法长时间的稳定输出所测物位。

技术参数

产品特点
• 的单独测最阻抗和容抗设计提高了抗挂料能力；
• 探头温度范围：-100℃…500℃；
• 最小测量量程可达数厘米、测量量程可达数百米；
• 适合测量油水界面和气液界面；
• 适合测量粘稠性物料，探头抗挂料；
• 稳定可靠的输出，耐飞灰、落料、水汽、结晶、结蜡影响；
• 无活动及易磨损部件，无需经常清洁、保养、调试；
• 支持分体安装，分体距离可达50m；
• 本质安全认证、粉尘防爆认证、隔爆认证。