影响闪存 Flash/EMMC 高低温测试运行的因素

 影响闪存 Flash/EMMC 高低温测试运行的因素

影响闪存 Flash/EMMC 高低温测试运行的因素

  什么是温度均匀度?闪存 Flash/EMMC 高低温测试在稳定状态下，工作空间在某一瞬间时任意两点之间温度的差值。主要影响高低温交变试验箱温度均匀度的因素有如下6点：

　　1、密封性：箱体和门的密封性不严，比如：密封条非定制的有接缝以及大门漏气等，从而影响工作空间的温度均匀性。

　　2、箱体结构：由于温湿度试验箱内壁结构不同，所以导致试验箱内壁的温度也会不均匀，进一步的对工作室内的热对流形成影响从而造成内部温度均匀度产生偏差。

　　3、热负载因素：如果试验箱工作室内放置了足够影响内部整体热对流的试验样品，就必然会在一定的程度上来影响内部温度的均匀性，比如说放置LED照明产品，其产品自身就存在着发光发热的情况，成为热负载，那么对于温度均匀度的就存在很大的影响。

　　4、热传递：由于工作室的箱壁前后左右上下6个面的传热系数不同，因有的有穿线孔、检测孔、测试孔等小细节的设计会导致局部有散热、传热，使设备箱体有温度不均匀现象，而使箱壁幅射的对流传热也会不均匀，影响温度均匀。

　　5、热辐射：设计上的问题导致试验箱在内部结构、空间的设计很难达到均匀的对称结构，温湿度试验箱而不对称的结构必然会导致内部温度均匀度产生偏差，这个层面它主要的是反映在钣金设计与它的处理两方面，比如风道的设计、发热管的放置位置、风机功率的大小等原因;

　　6、样品和箱体体积的比例及摆放的合理性：如果样品体积过大，或者样品放置在试验箱内的位置或者方式不合理，使舱内的空气对流受阻，也会影响温度均匀度。