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牛津仪器X-Strata920、CMI900探测器
牛津仪器X-Strata920、CMI900探测器
镀层测厚仪X-Strata920系列,属于X射线荧光镀层厚度测量仪,广泛应用于PCB、FPC、LED、SMT、连接器、端子、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等行业的表面镀层厚度测量、材料分析;是各类电镀产品镀层厚度测量的理想检测工具。
镀层测厚仪X-Strata920系列具有高性价价比,有着非破坏、非接触、多合金测量、测量元素范围广、测量精准、测量时间短等特点;具有高生产力、高再现性,能有效控制产品质量,节约电镀成本。
镀层测厚仪X-Strata920工作特点:
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