Fischerscope X-RAY XDL

技术参数

1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法； 
2.原始射线从上至下； 
3.微聚焦X-射线管高压设定可调节至 的应用：50kV，40kV或30kV； 
4.标准视准器组：圆形0.1/0.2/0.3和长方形0.05X0.3mm； 
5.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）650 mm×570 mm×740 mm（26〞×22〞×29〞），重量大约为105kg（120lbs）； 
6.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）300 mm×460 mm×500 mm（12〞×18〞×20〞）带向上回转箱门； 
7.嵌入式固定的测试件支承板，需要时可移去以适用于大件的超出尺寸的测试工件； 
8.电机驱动的144mm（5.7〞）X-射线头部（X-射线管，比例接收器及视准器）的Z轴运行； 
9.试件查看用彩色摄像机 
10.测量开始/结束按钮，X-射线头部上/下按钮及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。

主要特点

FISCHERSCOPE® XDLM®-C4 是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。 

微聚焦X-射线管以及电机带动的有4个不同尺寸视准器组成的视准器组使得XDLM®-C4成为测量大批量生产部件的理想测量仪器，例如螺丝，螺母和螺栓。可选择的钴接收器有效地解决铜上镀镍的测量应用问题 

XDLM®的特色是*的距离修正测量方法。DCM方法（距离控制测量）自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别，简便了测量复杂几何外形的测试工件和在不同测量距离上的测量。 

与WinFTM® V.6软件及校样标准块Gold Assay结合，XDLM®作为FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分， *地适用于快速，非破坏性和精确的测量珠宝及贵金属中金的成分。

适用于Windows®2000或选择适用于Windows® XP的真Win32位程序带在线帮助功能 
频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用 
能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化 
画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离） 
图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中 
对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正（DCM方法）范围可达80mm(3.2〞) 
测量模式用于： 单、双及三层镀层系统 
         双元及三元合金镀层的分析和厚度测量 
         双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度 
         和合金成分都能被测量) 
能分析多达四种金属成分的合金，包括金的开数分析的特殊功能。对电镀溶液的分析能力可达包含一或二种阳离子的电镀液。 
可通过RS-232接口或使用网络环境控制命令设定数据的输出和输入以实现系统的远程控制。 
通过使用可选择的带合成条形码读入器的键盘实现产品选择。 
可编程的应用项图标，用于快速产品选择。 
完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估。 
报告生成，数据输出 
语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文 
菜单中的某些选择项可使用

德国FISCHER公司X-RAY荧光测厚仪

HELMUT FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的精确处理和使用了的软件和硬件技术，FISCHER公司的X射线仪器具有其*的特点。

*的WinFTM®（版本3（V.3）或版本6（V.6））软件是仪器的核心。它可以使仪器在没有标准片校准并保证一定测量精度的情况下测量复杂的镀层系统，同时可以对包含多达24种元素的材料进行分析（使用WinFTM® V.6软件）

典型的应用范围如下：

l 单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。

l 二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。

l 三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。

l 双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。

l 双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

l zui多24种镀层（使用WinFTM® V.6软件）。

l 分析多达4种（或24种－使用V.6软件）元素。

l 分析电镀溶液中的金属离子浓度。

FISCHERSCOPE® XUL®

FISCHERSCOPE® XUL®设计为X-射线管和探测器系统位于测量台下部。因此测量方向从下往上。这也就提供了一个重要的优点，尤其对于测量各种不同几何外形的小工件，例如螺丝、螺母、螺栓或各种各样的电连接器。在绝大多数情况下，被测试工件的表面可直接放置于测量台上，这就避免了在从上往下测量系统中需要的测量距离调整。测试点会自动地调整在正确的距离上。这就加快了测量的过程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的测量误差。- FISCHE是 一家实现了这种设计的X-射线荧光镀层厚度测试仪器的制造厂商。

与WinFTM® V.6 软件及校样标准块Gold Assay配合，XUL® 作为FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分，可以*地适应于快速，非破坏性和精确的测量珠宝及贵金属中金的成分。

COSMOS-1X

适合测定物zui精良的测定条件设定（高精度测定）

采用二种滤波器

采用数位式滤波器外另有机械式滤波器（两种滤波器）在测不定期时，若是zui适当的条件下，经常可得到zui高的精度。

准值仪5种孔径内藏式

zui小的准值仪孔径仅0.1 mm，可测定极微小的部品。

标准：0.1,0.2,0.5,1.0,2.0另备有2种特别规格可供选购。

0.05,0.1,0.2,0.3,0.5

0.05*0.5,0.1,0.2,0.3,0.5

优越的表示机能

（MS—WINDOWS规格）

与IBM PC相容个人电脑

使用与IBM PC相容个人电脑，采用MS-WINDOWS软体，使用时资源丰富，多彩多姿。

测定部显示尽像的表示

X线照射部可由WINDOWS尽面上取得照射部的表示。

从准值仪照射测定物的位置，可由倍率变更机能来实现尽面上测出物放大。

在膜厚测定中的能谱表示

由多频分析器可快速处理能谱分析。可执行测定的能谱分析表示，操作简单。

提升资料处理的速度

充实测量报告的作成机能

采用MS-WINDOW软件，测定尽面的撷取，非常简便，可充实测量报告的制作机能。可同时间处理多项工作，机器在测量中亦可处理其他工作；包括如测量报告的制作。

获得安心的保证性

自己诊断及X线管保食机能

自己诊断机能，迅速的对策来排除机器的困扰。附有X线管的使用时间及耐久时间表示机能，可加强维保食的安全性。

机种各别的规格