BX53-P 偏光显微镜

BX53-P 偏光显微镜

使用UIS2无限远校正光学系统和*的光学设计组合的奥林巴斯BX53-P偏光显微镜在偏光应用时提供了的性能。可扩展的补偿器使BX53-P有足够多的功能来处理任何相关领域中的观察和测量应用。

偏光特性的升级
ACHN-P和UPLFLN-P物镜中使用的精巧设计和生产技术与显微镜*结合。BX53-P偏光显微镜在起偏振片和检偏振片里配备了高EF值滤色片，提供了的图像对比度。为满足研究和应用的多样化要求，*型UPLFLN-P系列物镜采用了适用于多种观察方法的设计，包括Nomarski DIC和荧光显微镜观察以及偏光观察。 
* EF（衰减系数）是平行和交叉偏光滤色片之间的亮度比。EF值越高，消光效果就越好。

正交镜和锥光镜成像中的锐利图像
使用U-CPA锥光镜观察附件后，正交偏光和锥光镜观察之间的切换简单而快捷。锥光镜成像的聚焦轻松而准确。勃氏透镜视场光阑的使用使其可以持续获取锐利而清晰的锥光图像。

BX53-P 偏光显微镜坚固而精确的旋转载物台
旋转载物台安装的旋转对中装置能够顺畅地旋转标本。此外，为了实施精确测量，每隔45度就有一个咔哒停止装置。如果增加了双机械载物台，还可以进一步完成X-Y的微小移动。