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详细介绍
| 单点反射测量支架是一个探头支架，用于厚度达150mm的光学层和其它基底的反射测量。 |
这一探头支架适于固定直径达6.35mm的光学探头和其它取样设备，可以在一个不锈钢支柱上上下滑行，调节高度可达63.5mm。
反射台是电镀台面，表面刻有同心圆以确定直径，用于放置圆形样品。
规格
| 尺寸（基座）: | 直径为152.4mm |
| 尺寸（样品区）: | 直径为101.6mm* |
| 重量: | 620 g |
| 高度: | 垂直可调高度63.5mm |
*指带有同心圆刻度的区域，用户也可利用整个基座的区域。
| 广州标旗光电科技发展股份有限公司 |
| 参考价 | 面议 |
更新时间：2021-08-04 12:28:13浏览次数：115
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| 单点反射测量支架是一个探头支架，用于厚度达150mm的光学层和其它基底的反射测量。 |
这一探头支架适于固定直径达6.35mm的光学探头和其它取样设备，可以在一个不锈钢支柱上上下滑行，调节高度可达63.5mm。
反射台是电镀台面，表面刻有同心圆以确定直径，用于放置圆形样品。
| 尺寸（基座）: | 直径为152.4mm |
| 尺寸（样品区）: | 直径为101.6mm* |
| 重量: | 620 g |
| 高度: | 垂直可调高度63.5mm |
*指带有同心圆刻度的区域，用户也可利用整个基座的区域。
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