光学薄膜测量综合实验

RLE-RI03 光学薄膜测量综合实验

实验简介

光纤芯径：200μm；数值孔径：0.22NA；长度：2m长；铠甲护套；SMA905接头。

6.光纤准直镜：

适用波段：200~2500nm，Φ6mm通光口径，SMA905接口，焦长12.7mm，带微调；

7.光纤跳线：

光纤芯径：400μm；数值孔径：0.22NA；长度：100±10cm；3mm铠甲护套；SMA905接头。

8.软件：

8-1薄膜测厚软件：包含光谱预处理方法、回归算法、拟合算法、傅立叶变换信号处理算法、最小二乘算法，分步测量引导，薄膜测量厚度范围50nm~50μm。

8-2镀膜仿真与设计软件组件

1）主界面4大功能分区，包括单层膜、减反射膜、介质高反膜和滤光片；

2）均可设置基底、介质和介质折射率，改变参数，反射率透过率曲线实时更新。

9.实验手册及保修卡。