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详细介绍
X荧光光谱仪
| 1 仪器概述 |
| XTU-50镀层膜厚分析X射线荧光光谱仪是公司经过3年研发，专门针对金属合金、铝型材、塑料等材料镀层分析、达克罗涂覆层分析的普及机型，三重射线防护系统；人性化操作界面；*的VisualFp基本参数法分析软件，可不用标准样品标定，即可对客户样品镀层膜厚测试、基材成分分析。精心设计的开放式工作曲线功能，特别适用于工艺复杂材料的工厂镀层、涂层的制程控制。 |
| 2 性能优势 |
| 1.*的VisualFp基本参数法分析软件，可不用标准样品标定，即对样品镀层膜厚进行精准测试 2.除可对金属镀层测试外，还可对合金镀层、铝合金镀层、玻璃镀层、塑料镀层进行精确测量，开创了XRF对镀层测厚的全面技术 3.软件可根据样品材质、形状和大小自动设定光管功率，既能延长光管使用寿命又能充分发挥探测器性能，大幅提高测量精度 4.业内提供开放式工作曲线标定平台,可为每家用户量身定做的镀层分析工作曲线 5.三重射线防护（软件、硬件、迷宫设计），确保操作人员人身安全与意外操作带来的辐射伤害 6.仪器外部对样品微调设计，降低及防止样品放置好后关闭样品盖产生振动而使测试位置发生变化导致的测试不准确性 7.可根据用户要求自行定制测试报告输出格式（Excel、PDF等），符合工厂多种统计及格式要求 8.业内*家对达克罗涂覆工艺厚度分析的软件方法，*取代金相显微镜技术在该行业的应用 9.软件对多次测试结果进行统计分析功能 10.业内*家既可以测试镀层厚度，又可以同时分析基材及镀层成分的XRF |
| 2.3 仪器技术指标 |
| 1、仪器尺寸：550(W)x480(D)x470(H)mm 2、样品腔尺寸：500*360*215mm； 3、低检测厚度：0.005um 4、检测厚度上限，50 - 80um（视材料而定） 5、多测试层数：10层 6、小测量面积：0.002mm 7、X荧光光谱仪分辨率：见下面探测系统详细参数说明 8、准直器：Φ0.1mm、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm自动切换 9、滤光片：5种滤光片自动切换 10、CCD观察：260万像素高清CCD 11、样品微动范围：XY50mm 12、输入电源：AC220V～240V，50/60Hz 13、额定功率：350W 14、重量：约45Kg 15、工作环境温度：温度15—30℃ 16、工作环境相对湿度：≤85%（不结露） 17、稳定性:多次测量重复性误差小于0.1% |
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