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圆派科学仪器(上海)有限公司
凭借过去 60 年的技术创新历史和业内, FEI 成为了透射电子显微镜 (TEM)、 扫描电子显微镜 (SEM)、整合了 SEM 与聚焦离子束 (FIB) 的 DualBeam™ 仪器和 用于精密高速切割与加工的聚焦离子束仪器的性能标准。 FEI 成像系统在三维 表征、分析和修改/原型设计领域实现了亚埃(埃:十分之一纳米)级分辨率。
Prisma & Prisma EX多功能环境真空钨灯丝分析扫描电子显微镜
o 内径 340 mm
o 分析工作距离 10 mm
o 12个附件接口
o EDS采集角: 35°
高真空模式
高真空下减速模式
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