TESCAN 高分辨率三维 X 射线 CT 显微镜 测量、工具显微镜

TESCAN 高分辨率三维 X 射线 CT 显微镜

TESCAN UniTOM 是一款灵活的高分辨率 X 射线 CT 系统，可针对特定应用量身定制，以大限度地提高图像质量和分辨率。可提供不同配置，从单一来源检测器配置到具有多个 X 射线源和检测器的更灵活的系统。

TESCAN 高分辨率三维 X 射线 CT 显微镜主要优势
※ 根据用户需求定制
UniTOM 是一款配置灵活的高分辨 X 射线 CT 显微镜，可根据用户的需求组合功能模块，大限度的提高图像质量、分辨率和分析速度。
※ 感兴趣区域的直观观测
可在概览图上选择感兴趣区域进行实时缩放，获得孔隙结构和矿物的细节信息。
※ 亚微米级分辨率
UniTOM 可以获得 500 nm 的真实空间分辨率，并且适用于多种类型和尺寸的样品，可分析的样品大直径为 40 cm, 大高度 50 cm。
※ 模块化设置
模块化设计，硬件模块（如可附加的X射线源或探测器）可以轻松集成到系统中，方便用户进行硬件升级或更换单个硬件，进而延长系统的使用寿命。

模块化灵活配置，分辨率小可达 500 nm

UniTOM 是一款多功能的亚微米 X 射线显微 CT 系统，可以达到小 500 nm 的真实空间分辨率。 该系统非常灵活，可处理多种样品类型和尺寸，样品大直径可达 30 cm，高度可达 50 cm。UniTOM 具有模块化设置，其中每个新组件硬件（例如附加的 X 射线源或检测器）可以轻松集成到系统中，从而允许将来硬件升级或单个组件的简单替换， 延长 X 射线系统的使用寿命 。