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详细介绍
| 项目 | 规格 |
|---|---|
| 产地 | 日本 |
| 测定元素范围 | 钠（Na11）～铀（U92）※ 需选配氦气充填系统 |
| 样品型态 | 固体、液体、粉末皆可 |
| X射线源 | 管电压： 15 kV、30kV、40 kV、50 kV（可调式） 管电流：1mA（10～1000μA自动调整ZUI适电流输出） |
| X射线照射方向 | 上方垂直照射型 |
| 检测器 | Vortex SDD（Hitachi专LI，多阴极硅半导体检测器） |
| 冷却方式 | 电子冷却（不需液态氮） |
| 准直器（分析区域） | 0.2、0.5、1.2、3mmφ（自动切换） |
| 样品观察 | 高解析、高分辨率彩色CCD镜头 |
| 滤波器 | 六种模式（自动切换） |
| 样品ZUI大可扫描范围 | 250(W)×200(D)×150(H) mm |
| 仪器尺寸 | 750(W)×740(D)×783(H) mm |
| 重量 | 160Kg（不含计算机及屏幕） |
| 扫描分析功能 | ■ 高解析、高分辨率CCD镜头 ■ 雷射自动对焦系统（误差小于1mm） ■ 连续500点扫描分析 ■ 扫描路径纪录系统 ■ 微小部件扫描分析 ■ 微小异物查找（分辨率20um以下） |
| 定性分析功能 | ■ 微量元素成份定性分析 ■ 元素分析 ■ 能谱比对 ■ 元素自动辨别比对 |
| 定量分析功能 | ■ 微量元素成份定量分析 ■ RoHS有害物质分析 ■ 无卤规范有害物质分析 ■ EN71-3有害物质分析 ■ 电镀膜厚测定 ■ 元素分析FP法 ■ 元素分析检量线法 ■ HS快速分析模式 |
| 标准配件 | ■ EA 系列专用桌上型Dell计算机（含液晶屏幕、鼠标、键盘） ■ RoHS塑料有害物质标准品（日本国家一JI认证单位Jab认证） ■ 仪器硬件确认片一组（含强度、能量、分辨率及光径校正） ■ 样品杯 ■ 样品杯用测试薄膜 |
| 可加购选项 | ■ 氦气充填系统 ■ 操作游戏杆 ■ 信号灯 ■ 特殊式样专用载台 ■ 样品置放治具 ■ 环境限制用标准物质（无卤、EN71-3、Sb锑、Sn锡、P磷、S硫） ■ 金属电镀膜厚标准品 ■ 油压机与制锭机 |
| 设置需求 | 建议桌面尺寸：1500(W)×1000(D) mm 使用电源：AC100～240V（50～60Hz）/400VA |
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