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详细介绍
| 项目 | 规格 |
|---|---|
| 产地 | 日本 |
| 测定元素范围 | 铝（Al13）～铀（U92），大气环境 钠（Na11）～铀（U92），真空环境 |
| 样品型态 | 固体、液体、粉末 |
| X射线源 | X射线管（Rh靶） 管电压： 15 kV, 50 kV（可调式） 管电流：1mA（10~1000µA，自动调整ZUI适电流输出） |
| X射线照射方向 | 下方垂直照射型 |
| 检测器 | 新式专LISDD硅半导体检测器 |
| 冷却方式 | 电子冷却（不需液态氮） |
| 准直器（分析区域） | 1、3、5 mmΦ（自动切换） |
| 样品观察 | 高分辨率彩色CCD镜头 |
| 滤波器 | 5种模式（自动切换） |
| 样品室 | 304(W)×304(D)×110(H) mm |
| 仪器尺寸 | 520(W)×600(D)×445(H) mm |
| 重量 | 69Kg（不含计算机） |
| 定性分析功能 | ■ 元素分析 ■ 能谱比对 ■ 数据库自动辨别比对 |
| 定量分析功能 | ■ RoHS有害物质分析 ■ 无卤规范有害物质分析 ■ EN71-3有害物质分析 ■ 金属电镀膜厚测定 ■ 元素分析FP法 ■ 元素分析检量线法 ■ HS快速分析模式 |
| 标准配件 | ■ 桌面计算机（含屏幕、鼠标、键盘） ■ RoHS有害物质标准品（日本JAB一级认证标准品） ■ 仪器硬件确认试片（含强度、能量、分辨率及X光径） ■ 专用样品杯 ■ 专用测试薄膜 |
| 选配 | ■ 转盘型自动进样器 ■ 多种环境限制用标准物质（无卤、EN71-3、膜厚 、 锑Sb、锡Sn、磷P、硫S） ■ 金属膜厚标准品 |
| 设置需求 | 建议桌面尺寸：1500(W)×1000(D) mm 使用电源：AC100～240V（50～60Hz）/180VA |
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