Testram RFID综合测试仪T8200UD

Testram RFID综合测试仪T8200UD

RFID综合测试仪T8200UD是针对近场非接触式IC卡、天线（基于ISO/IEC14443 Type A，Type B，ISO/IEC18092 Passive Mode即Type C索尼的Felica卡），以及非接触IC卡（ISO/15693Tag-It，I-CODE SLI)，IC标签的共振频率，Q值和插入损耗（insertion loss）进行检测，根据设定值判定待测物PASS/FAIL的设备。

检测频率：500KHz  ～ 300MHz

测定项目：不同的制品，通过制作对应的检测天线，可以检查各式制品

○ 共振频率                                 ○非接触式IC卡

○ 衰减量                                   ○NFC搭载的制品

○ Q值                                      ○着装芯片之前的RFID天线

通过设定各个待测项目的设定值进行检测，并可以通过保存测量特性波形及测定值，管理RFID产品的品质。

RFID综合测试仪T8200UD是针对近场非接触式IC卡、天线（基于ISO/IEC14443 Type A，Type B，ISO/IEC18092 Passive Mode即Type C索尼的Felica卡），以及非接触IC卡（ISO/15693Tag-It，I-CODE SLI)，IC标签的共振频率，Q值和插入损耗（insertion loss）进行检测，根据设定值判定待测物PASS/FAIL的设备。

检测频率：500KHz  ～ 300MHz

测定项目：不同的制品，通过制作对应的检测天线，可以检查各式制品

○ 共振频率                                 ○非接触式IC卡

○ 衰减量                                   ○NFC搭载的制品

○ Q值                                      ○着装芯片之前的RFID天线

通过设定各个待测项目的设定值进行检测，并可以通过保存测量特性波形及测定值，管理RFID产品的品质。