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PCB 板/电子芯片高低温测试

发布时间:2020-8-21

  一步、预处理:将被测样品放置在正常的试验大气条件下,直至达到温度稳定。

  二步、初始检测:将被测样品与标准要求对照,符合要求后直接放入高低温冲击试验箱内即可。

  三步、试验:1、试验样品需按标准要求放置在试验箱内,并将试验箱内温度升到点,保持一定的时间至试验样品达到温度稳定,以时间长都为准。

  2、高温阶段结束后,在5分钟内将试验样品转换到已调节到-55℃的低温试验箱内,保持1h或者直至试验样品达到温度稳定,以时间长都为准。

  3、低温阶段结束后,在5分钟内将试验样品转换到已调节到70℃的高低温冲击试验箱内,保持1h或者直至试验样品达到温度稳定,以时间长都为准。

  4、重复上述实验方法,以完成三个循环周期。根据样件大小与空间大小,时间可能会略有误差。

  四步、恢复:试验样品从高低温冲击试验箱内取出后,应该在正常的试验大气条件下进行恢复,直到试验样品达到温度稳定。

  五步、检测:对照标准中的受损程度及其它方法进行检测结果评定。

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