Labthink兰光推出CHY-CA新改款型测厚仪
在原有CHY-CA测厚仪的基础上，Labthink兰光的技术人员针对仪器外形与测量系统进行开发与改制，推出CHY-CA新改款型测厚仪。
该测厚仪可广泛应用于单晶硅片、太阳能电池片、铜箔、古籍文献等材料厚度的测试。测厚仪的测试幅面宽度扩展到了400mm，更大的满足了是样检测的幅面宽度的要求；测试分辩率高达0.1微米，除了具备高精度、宽范围检测等特点以外，还采用测量样品自动前进驱动系统，大大提高了检测效率，充分地满足了用户连续测试的要求，并且配有专业软件支持，操作方面，人机交互友好。
如欲了解该款测厚仪详细信息，请致电济南兰光咨询！
请输入账号
请输入密码
请输验证码
以上信息由企业自行提供，信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责，制药网对此不承担任何保证责任。
温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。
