GB2637数显式低硼硅玻璃安瓿壁厚仪

GB2637数显式低硼硅玻璃安瓿壁厚仪产品特征
● 针对安瓿瓶而设计
● 瓶底、瓶壁厚度测试一机完成
● 超标准高精度表头
● 机械式设计简单耐用
● 大、小试样灵活可测
● 液晶数字显示

GB2637数显式低硼硅玻璃安瓿壁厚仪技术参数
● 测量范围： 0-12.7mm（其他厚度可定制）
● 分 辨 率： 0.001mm
● 试样直径： 3-210mm
● 试样高度： ≤130mm
● 外观尺寸： 250mm*80mm*290mm
● 重量： 6.5kg

产品标准

GB2637-1995、GB/T2639-2008、YBB00332002

标配：一套测量头

：0531 -58531949  

：puchuang8028

公司简介

Paratronix普创是一家专业从事包材检测理论研究与检测硬件开发并具有独立的自主知识产权的高科技企业。产品广泛服务于国家质检药检机构、印刷、包装、医药、日化、科研院校、食品、医药、化工、新能源、新材料等领域。

Paratronix普创一直以客户需求为导向，坚持走自主创新之路，以质量和科技技术行业发展为目的。公司以“专注检测理论研究，以客户需求"为价值中心，矢志不渝的为用户提供zui可信赖的服务。

Paratronix普创拥有*的技研、销售团队，同时建立了完善的售后服务体系。以优质的产品和用心的服务赢得国内外广大用户的赞誉。

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