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紫外辐照计-UV-340

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更新时间:2021-07-30 12:01:36浏览次数:325

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产品简介

紫外辐照计-UV-340紫外辐照计-UV-340介绍该仪器适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作

详细介绍

紫外辐照计-UV-340紫外辐照计-UV-340介绍
该仪器适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

紫外辐照计-UV-340主要性能指标
※ 波长范围及峰值波长:UV-340探头:λ:(315~370)nm;λP=340nm
※ 辐照度测量范围: (0.1~199.9×103)μW/cm2
※ 紫外带外区杂光: UV340:小于0.05%
※ 余弦特性: 符合国家二级光照度标准
※ 示值相对误差: ±10%
※ 响应时间: 1秒
※ 使用环境: 温度(0~40)℃;湿度<85%RH
※ 尺寸和重量:180mm×80mm×36mm;0.2kg
※ 电源:9V积层电池(6F22型)一只


 

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