快速冲击冷热试验箱/国产冷热冲击箱

快速冲击冷热试验箱/国产冷热冲击箱适用于电子电器零组件、通讯组件、自动化零部件、汽车配件、化学材料、金属、塑胶等行业、航天、国防工业、BGA、兵工业、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物对高、低温的反复抵拉力及产品处于热胀冷缩的物理环境产出的化学变化或物理伤害，可确认各种产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它,目前此设备是工业产业共认的理想测试工具。

快速冲击冷热试验箱/国产冷热冲击箱 满足的标准有以下:

GB/T2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验A 低温;GJB360.7-87温度冲击试验;GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温;GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件;GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件;GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件;GB/T 2423.22-2002温度变化;GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则;SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式；SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式;GB/T5170.2-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 温度试验设备;GB2424.1 电工电子产品环境试验 高低温试验导则;GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;GJB150.3A-2009 装备实验室环境试验方法第3部分高温试验;GB/T2423.22-1989温度变化试验；GJB 150.4A-2009 装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验;GJB 150.5A-2009 装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验;GJB367.2-1987 通信设备通用技术条件 环境试验方法;GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验;IEC68-2-14_试验方法N_温度变化;EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估;QC/T 17-1992 汽车零部件耐候性试验一般规则 汽车行业标标准等等包括其它产品行业标准。

温度冲击方法:垂直两箱法 / 静止三箱法。

常规型号和技术参数:

冲击箱常规型号一:3AP-CJ-50

内箱尺寸W×H×D:360mm×350mm×400mm

外箱尺寸W×H×D:1560mm*1750mm*1440mm

冲击箱常规型号二:3AP-CJ-80

内箱尺寸W×H×D:500mm×400mm×400mm

外箱尺寸W×H×D:1700mm*1800mm*1440mm

冲击箱常规型号三:3AP-CJ-100

内箱尺寸W×H×D:600mm×400mm×400mm

外箱尺寸W×H×D:1800mm*1800mm*1440mm

冲击箱常规型号四:3AP-CJ-150

内箱尺寸W×H×D:600mm×500mm×500mm

外箱尺寸W×H×D:1800mm*1900mm*1540mm

冲击箱常规型号五:3AP-CJ-250

内箱尺寸W×H×D:700mm×600mm×600mm

外箱尺寸W×H×D:1900mm*2000mm*1640mm

备注：更多尺寸及容积可根据led产品的大小、长短做设计，如需非标定制业务部门咨询。