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分析天平

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更新时间:2021-08-14 21:57:56浏览次数:171

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产品简介

分析天平-XS64产品参数量程:61g精度:0.1mg称盘尺寸:78×73mm线性:±0.2mg外型尺寸:263×453×322mm分析天平-XS64产品用途本产品适用于各地研究所和实验室分析天平-XS64主要特点1.采用高精度、高分辨率后置式传感器

详细介绍

分析天平-XS64产品参数 
量 程: 61g 
精 度: 0.1mg 
称盘尺寸: 78×73mm 
线 性: ±0.2mg 
外型尺寸: 263×453×322mm  
 
分析天平-XS64产品用途 
本产品适用于各地研究所和实验室  
 
分析天平-XS64主要特点 
1.采用高精度、高分辨率后置式传感器,获得准确称量结果  
2.全自动校准技术(FACT)  -  温度漂移触发的天平自动内校,内置两组砝码实现线性误差校准,确保称量结果的准确性  
3.变量程设计(DeltaRange)和双量程(DualRange)设计,满足客户对不同样品的称量需求  
4.革命性的网格称量盘(SmartGrid)、悬浮在称量室中的后挂称量设计,获得快速、稳定的称量结果  
5.易巧称量组件(ErgoClips),方便客户使用不同去皮容器进行称量  
6.触摸屏技术(Touch  screen),方便天平称量菜单和参数设置  
7.可移动的显示控制终端,方便天平使用  
8.*可拆卸的防风罩设计,实现天平的快速清洁  
9.内置RS232通讯接口,方便连接打印机、电脑等外围设备  
10.优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求  
11.具有简单称量、统计称量、公式称量、密度测定等内置应用程序  
12.e-Loader  II软件,实现更便捷的天平软件更新  
 


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