电子分析天平

电子分析天平-AB135-S产品参数量程：31/120g精度：0.01/0.1mg称盘尺寸：Φ80线性：±0.2mg*重复性：0.03/0.1mg外型尺寸：245×321×344mm电子分析天平-AB135-S产品用途本产品适用于各种研究所和实验室电子分析天平-AB135-S主要特点1.采用高分辨率的称量单元

电子分析天平-AB135-S产品参数 
量 程： 31/120g 
精 度： 0.01/0.1mg 
称盘尺寸： Φ80 
线 性： ±0.2mg* 
重 复 性： 0.03/0.1mg 
外型尺寸： 245×321×344mm 

电子分析天平-AB135-S产品用途 
本产品适用于各种研究所和实验室 

电子分析天平-AB135-S主要特点 
1.采用高分辨率的称量单元，满足用户高精度的称量需求 
2.称量单元保护装置（CellProtector），提高产品的抗冲击、过载性能 
3.坚固的金属机架，避免称量样品的污染，延长天平的使用寿命 
4.可读性为0.1mg天平采用背亮式液晶显示屏（Backlit LCD），方便用户读取称量结果 
5.内置砝码校准，确保称量结果的准确性 
6.双量程（DualRange）设计，满足客户对不同样品的称量需求 
7.可以拆除的防风罩设计，实现天平的快速清洁 
8.内置RS232通讯接口，方便连接打印机、电脑等外围设备 
9.标配机架塑料保护罩（Protective cover），避免散落样品的腐蚀 
10.具有简单称量、百分比称量、计件称量和动态称量等内置应用程序 

AB-L：外置砝码校准（需选购）； 
AB-S：内置砝码校准； 
AB-IC：内置砝码校准； 
AB-S/FACT：采用温度漂移及时间设置触发的全自动校准技术（FACT）。 
（1）精细量程内10 g样品典型重复性：0.02mg ； （2）精细量程内10 g样品典型线性：0.03mg