半导体高低温冲击测试箱目前适用的行业及产品有光电、LED、显示器、显示屏连接器，PCB连接器，FPC，电感器，电子元器件，数码产品，太阳能组件，光伏组件，光纤，LCD，PCB，FPC，微电子，电机，汽车灯产品及零部件等大型产品或者大型零部件。从很低到很高的温度包括中间的任意温度均可随意设定恒温或者冲击试验。

一、产品名称三箱式冷热冲击试验机（风冷式）

二、产品型号2AP-CJ

三、控制仪表爱佩自主研发的7英寸超大触摸AP-950可程序温度控制器全触摸屏控制器，触摸屏输入，根据客户要求可任意设定不同高低温冲击温度点，满足做测试的不同需求.

四、试样限制本试验设备禁止易燃、易爆、易挥发性物质试样的试验或储存腐蚀性物质试样的试验或

储存生物试样的试验或储存强电磁发射源试样的试验或储存。

五、三箱特点1、三箱设备区分为高温区、低温区、测试区三部分，测试样品*静止于测试区。采用*之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,完成冷热温度冲击测试。

2、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，执行冷热冲击条件时，可选择2箱或3箱之功能并具有高低温试验机的功能,相比于2箱冲击它还可选择做常温冲击。

六、容积、尺寸和重量

6.1.内容积50L

6.2.内箱尺寸400 *350 *350mm   　 (W* H *D)

6.3.外型尺寸(约)1350*1900*1650mm     (W* H *D)

6.4.重  量约900㎏

七、半导体高低温冲击测试箱性能指标

7.1.测试环境条件机器周围环境温度维持在+25~+30℃之间，相对湿度：≤85%；气压：86kPa～106kPa正常大气压力。

7.2.满足标准 .GB/T2423.1-2008 低温试验方法Test method of low tempemture test

·GB/T2423.2-2008  高温试验方法Test method of high temperature test

·GB/T2423.22-2012 温度变化试验Test of temperature chantge

·GJB150.5-86温度冲击试验Test of temperature shock

·GJB360.7-87温度冲击试验Test of temperature shock

·GJB367.2-87温度冲击试验Test of temperature shock

·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等

7.3.测试室温度范围：-40℃～+150 ℃ (风冷式)

7.4.高温室

7.4.1.预热温度范围RT～+165℃

7.4.2.升温时间

+50℃→+165℃ ≤30min

注：升温时间为高温室单独运转时的性能

7.5.低温室

7.5.1.预冷温度范围RT～-55℃

7.5.2.降温时间+20℃ → -55℃≤约60min

注：降温时间为低温室单独运转时的性能

7.6.试验室（试样区）

7.6.1.试验方式采用*之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,完成冷热温度冲击测试。

7.6.2.温度波动度±0.5℃

7.6.3.温度偏差±2.0℃

7.6.5.温度恢复时间≤5min；转换温度只需要≤10s（风门开启时间：3秒以内）