三箱式冷热冲击试验箱适合于led产品用，还常用于国防工业、航天工业自动化零组件、电器零组件、汽车部件、电子、塑料、化工业、光电、照明及相关产品在高低温度低气压单项或同时作用下，模拟高海拔、高空、（高原地区）气候进行贮存运用、运输可靠性试验，并可同时对试件通电进行电气性能参数的冲击测试。

三箱式冷热冲击试验箱性能参数参考如下：

一、低温冲击可选择温度范围：A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃（厂家还免费配高温至150度）

二、温度偏差：±2℃

三、温度波动度：±0.5℃。

四、温度恢复时间：≤5min。

五、温度恢复条件：高温150℃曝露30min低温-20℃曝露30min，高温150℃曝露30min低温-40℃曝露30min，高温150℃曝露30min低温-55℃曝露30min，高温150℃曝露30min低温-65℃曝露30min。

六、温度冲击转移方式：采用气动驱动。   

七、高温室储温的升温时间：30min (+25℃～+200℃)。

八、低温室储温的降温时间：65min (+25℃～-75℃)。

执行与满足标准

1、GB/T2423.1-1989低温试验方法；

2、GB/T2423.2-1989高温试验方法；

3、GB/T2423.22-1989温度变化试验；

4、GJB150.5-86温度冲击试验；

5、GJB360.7-87温度冲击试验；

6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。