薄膜测厚仪

薄膜测厚仪

薄膜测厚仪应用范围

适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

薄膜测厚仪主要特点

接触式测量原理

进口测厚传感器

触摸屏操作

扁平化人机交互界面显示

真彩色液晶显示试验数据、结果

手动、循环、预约定时多种测量模式

测试过程全自动完成

内嵌值、平均值、标准差数据统计分析功能

本机内置历史数据查询功能

配置微型打印机，可自动打印单次、统计报告

配置标准通信接口

可支持DSM实验室数据管理系统，实现数据统一管理（选购）

薄膜测厚仪技术指标

测量范围：0～2mm（标配）

      0～10mm（可选）

分 辨 率：0.1μm

测量速度：1~25次/min（可调）

测 量  头：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（标配）

纸      张：200mm2，50±1kPa（可选）

电      源：AC 220V 50Hz

外形尺寸：330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)

净      重：38kg

薄膜测厚仪执行标准

GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

薄膜测厚仪产品配置

主机、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件

注：产品技术规格如有变更，恕不另行通知，SYSTESTER思克保留修改权与解释权！