370A泰克晶体管图示仪 返回列表页

·包络显示
·波形平均
·点光标（370A）
·Kelvin传感测量
·全程控
·MS-DOS兼容的软盘，方便设置参孝存储和调用
描述
主要参数： 
·半导体器件高精度测量 
-上限达2000V或电流到10A的源（370A） 
-上限到3000V（371A） 
-上限到220W（370A） 
-上限到400A（371A） 
-1nA的测量分辨率 
-上限到3000W（371A） 
·上限到2mV的测量分辨率（370A） 
·波形对比 
·包络显示 
·波形平均 
·点光标（370A） 
·Kelvin传感测量 
·全程控 
·MS-DOS兼容的软盘，方便设置参孝存储和调用 

应用 
手动或自动进行半导体高分辨率DC参数测量 
来料检查 
生产测试 
过程监视及质量控制 
数据报告的生成 
元件配对 
失效分析 
工程测试 
交互式程控 
所有交互式程控测量是通过有鲜明特点的前面板或GPIB来完成的。使用几种存储方式，调整和存储操作参数，包括370A的非 
易失存储器、内置的MS-DOS兼容的软盘或到外部控制器。 

测试夹具 
测试夹具是标准附件，它提供被测器件安全防护，以保护测量人员的安全。测试夹具适应标准的A1001，中间通过Kelvin传 
感的A1005适配器、无Kelvin传感的3芯适配器和A1023、A1024表面封装适配器。 
370A程控特性曲线图示仪 
370A是*的高分辨率特性曲线图示仪，可应用到许多场合。370A能完成晶体管、闸流管、二极管、可控硅、场效应管、光电元件、太阳能电池、固态显示和其它半导体器件的直流参数特性的测试。 
在研发实验室，用370A来完成新器件、SPIEC参数的提取、失败分析和产生数据报告这些具体的测试工作。 

在制造过程中，用370A检验器件质量及过程监视。 
370A可进行来料检查、器件性能测试、失效分析和器件配对这些测试工作。 
技术指标集电极电源模式 AC，±DC，±泄露，±整流的正弦波范围***大峰值电流（±）峰值电流（脉冲式）（±）16V 10A 20A 80V 2A 4A 400V 0.4A 0.8A 2000V 0.05A 0.1A 阶梯信号发生器模式阶梯：DC，80μS脉冲，300μS脉冲阶梯量程-电流：50nA到200mA，按1-2-5顺序电压：50mV到2V，按1-2-5顺序偏置***大到±10X阶梯幅度阶梯数 0到10测量特性集电极电流-测试量程：100nA/div（1nA分辨率）至2A/div误差，1.5%光标读出＋0.05div设定值（点光标）发射极电流-测试量程：1nA/div（10pA分辨率）至2mA/div 误差 1.5%光标读出＋0.05div设定值＋1nA 安全标准 UL1244，CSA231，HD401S1