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详细介绍
产品介绍
XRD原位冷热台是一款X-射线衍射仪的变温测试附件，可实现样品变温测试的温度范围：-190~600°C / RT~1200°C 支持在空气 / 惰性气体 / 真空的环境条件下进行测试。
适合于粉末、片材样品在变温下进行X-射线结构研究，支持在现有各种X-射线衍射仪（布鲁克、赛默飞、理学等）上定制样品架进行适配。
简要参数
温度范围：-190~600℃ / RT~1200℃
温度稳定性：±0.1℃（＜600℃）±1℃（＞600℃）
支持反射/透射模式
气密腔室，可通保护气体
腔室可升级真空腔室（10^(-3) mbar）
上位机软件控制
支持改动或定制
参数一览表
产品图片
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