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XJP-600超长距高倍工具显微镜

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更新时间:2021-03-14 16:25:17浏览次数:380

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产品简介

XJP-600超长距高倍工具显微镜

详细介绍

产品用途

XJP-600多功能测量显微镜是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业开发的,也可作为高级金相显微镜使用。可用来鉴别和分析各种金属和合金的组织结构,可广泛应用在工厂或实验室进行铸件质量的鉴定、原材料的检验或对材料处理后金相组织的研究分析等。该仪器设计符合人机工程学要求,使您在工作中感到舒适和轻松。

产品规格

规格参数XJP-600
光路系统无限远校正光学系统
观察头正像、人性化0~45°任意可调、瞳距调节:55mm-75mm
目镜WF10X/Φ25mm、WF10X/Φ20mm带0.1十字分划板
长距离无限远平场复消色差物镜倍率数值孔径(N.A.)工作距离(W.D.) 
0.1544
10×0.334
20×0.3530
50×0.517
放大倍数500×
测量工作台测量平台X轴移动范围100mm
Y轴移动范围100mm
调焦方式手动
测量方式线性编码器(X-Y-Z)
数显分辨率(mm)0.001/0.005/0.0005
浮动功能X-Y快速断开
载物台直径286×286mm
中心玻璃台直径180×180mm
玻璃台载重5KG
检测尺0.01mm测微尺
DIC装置DIC棱镜插孔四孔转换器
偏光装置检偏镜可360度转动,起偏镜、检偏镜均可移出光路
调焦机构调焦手轮进行上下调焦
照明系统下光源照明:12V/50W卤素灯,带可调整光圈远心照明系统,亮度可调
上科勒照明:12V/50W卤素灯,带可调视场光栏和孔径光栏,亮度可调
仪器尺寸长宽高:262*220*325mm
可升级配件目镜:15× 20×
物镜:2× 100×
角度分度值
高质量成像系统
二维测量软件
注解:●为标配、○为可升级配件

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