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详细介绍
涂层测厚仪又称镀层测厚仪，漆膜测厚仪等。涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性涂层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等）。MC-2001系列涂层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域
测量原理：MC-2001涂层测厚仪采用磁感应原理，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。
MC系列涂层测厚仪特性
该产品是采用单片机技术、精度高、示值稳定、功耗低、操作简单方便、单探头全量程测量等优点 ; 具有读出、低电压指示等功能 , 其性能达到当代同类仪器*水平。
MC-2001系列涂层测厚仪技术参数：
显示器：4位10mm液晶
MC-2001 测试范围：0-1000um
MC-2002 测试范围：0-2000um
分辨率：1um
测量精度：±(3%+1) um
电源：4节5号电池
操作条件：温度0~40℃湿度<80%
尺寸：161×69×32mm
重量：260g（包括电池）
产品所属：涂层测厚仪系列；相关大系列：（超声波涂层）测厚仪
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