超高分辨散射式近场光学显微镜 - neaSNOM系统

超高分辨散射式近场光学显微镜 - neaSNOM系统

neaSNOM是德国neaspec公司推出的第三代散射式近场光学显微镜（简称s-SNOM），其采用了化的散射式核心设计技术，极大的提高了光学分辨率，并且不依赖于入射激光的波长，能够在可见、红外和太赫兹光谱范围内，提供优于10nm空间分辨率的光谱和近场光学图像。由于其高度的可靠性和可重复性。neaSNOM业已成为纳米光学领域热点研究方向的科研设备，在等离基元、纳米FTIR和太赫兹等众多研究方向得到了许多重要科研成果。

技术特点和优势：

•neaSNOM是目前世界上成熟的s-SNOM产品

•保护的散射式近场光学测量技术

——的*10 nm空间分辨率

•的高阶解调背景压缩技术

——在获得10nm空间分辨率的同时保持*的信噪比

•保护的干涉式近场信号探测单元

•的赝外差干涉式探测技术

——能够获得对近场信号强度和相位的同步成像

•保护的反射式光学系统

——用于宽波长范围的光源：可见、红外以至太赫兹

•高稳定性的AFM系统，

——同时优化了纳米尺度下光学测量

•双光束设计

——*的光学接入角：水平方向180°，垂直方向60°

•操作和样品准备简单

——仅需要常规的AFM样品准备过程

超高分辨散射式近场光学显微镜原理介绍和功能介绍视频：

重要应用领域：