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Contour X 白光干涉光学轮廓仪

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更新时间:2021-07-22 20:23:49浏览次数:13

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产品简介

布鲁克Bruker白光干涉光学轮廓仪 Contour X, 满足微纳米表面测量需要

详细介绍

布鲁克Bruker白光干涉光学轮廓仪 Contour X, 满足微纳米表面测量需要

简介:

•桌面型精巧款式

•采集数据,自动测量,分析和数据后处理,一气呵成的完备方案

•样品尺寸:

•150 mm x 150 mm x 92 mm

•承载 4.5 kg

•垂直分辨率: < 0.01nm @ 所有视场下

•横向分辨:

•0.3µm (±150nm)

•AcuityXR 0.15µm (±75nm)

•基于白光干涉原理,结果可溯源

白光干涉技术内在优势

垂直分辨率

普适性,易于操作、各种样品类型与表面

计量

硬件,为性能所做优化

物镜,为挑战性测量专门设计

完备的自动化测量系统标准配置

独特的缝合功能

针对不同应用下,提升效率

ContourX

关键好处

高质量计量

作为桌面型轮廓仪

布鲁克白光干涉轮廓仪

专为您的应用服务

•从每日测试挑战到满足严苛要求,可靠的表面计量

•不同应用示例:展示布鲁克白光干涉独到之处

•薄膜与镀层

•精密加工

•材料研究

•MEMS与传感器

•光学元器件

•半导体

•摩擦学

薄膜与镀层:表面粗糙度与厚度,独特的准确性

表面粗糙度与平整度

满足您的严苛要求

材料研究:表面纹理,揭示最微小的细节


MEMS和传感器

关键尺寸– 质量控制,匹配您的所有需求

关键尺寸– 质量控制,完备的自动化组件

光学元器件:全频谱密度的粗糙度信息

光栅与光学器件,亚微米计量

微型光学形貌表征

缺陷侦测


半导体:质量监控与工艺开发,匹配您的应用需求

质量监控与工艺开发,完备的软件平台

关键尺寸– 质量控制

完备的自动化组件

摩擦学

表面纹理与磨损体积(速率)

满足您对准确性的需求

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