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能量色散X射线荧光Compass-200光谱仪分析现场测定地质样品中W(钨)含量

2022年05月10日 14:44来源:苏州英飞思科学仪器有限公司 >>进入该公司展台人气:20


能量色散X射线荧光Compass-200光谱仪分析现场测定W钨矿含量

三元催化荧光分析仪

采用Compass-200型量色散X射线荧光仪测量化探样品,并对获得的仪器谱进行散射本底扣除和直接解调谱线重建,获得W的Lα特征X射线峰净峰面积,从而实现W含量的测量.对同一批化探样品进行室内能量色散X射线荧光分析和野外X射线荧光分析,其分析结果对比表明对能量色散X射线荧光仪进行谱线处理后,可以在野外现场对W元素实现定性和定量分析,为野外现场W元素测量提供了方法.

Compass 200.jpgastm d4294测试仪

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