抗干扰介损测试仪-上海雷索电子有限公司

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详细介绍

GWS-III型抗干扰介质损耗测试仪是一种*的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）。

主要技术指标

1、电源：AC220V 50Hz±1%

2、输出电压：2.5KV、 3KV、5KV 、7.5KV 、10KV

3、输出功率：0.8KV

4、环境温度：5℃-40℃(液晶屏应避免长时日照)

5、相对湿度：30%-70%

6、测量范围：tgδ<50% Cx <60000p (2.5KV时) Cx <20000p (10KV时)

7、基本误差：产品在环境温度20℃±5%时，相对湿度30%-50%的条件下，符合下表之规定。

8、分辨率： tgδ： 0.01% Cx : 0.001pF

9、外形尺寸:主机箱 = 490mm×3 0 0 m m ×4 5 0 m m

附件箱 = 4 9 0 m m ×3 6 0 m m ×1 3 0 m m

1 0 、重量： 2 0 K g（主机箱）5 K g （附件箱）