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详细介绍
HAST加速老化试验箱--产品用途
试验目的是为了提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间，随着半导体可靠性的提高，大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多为了提高试验效率、减少试验时间，采用了的压力蒸煮锅试验方法。
HAST加速老化试验箱--结构特点
·全彩7 ’TFT中/英文触控控制系统
·0.1℃/0.1%RH/0.1kg/cm2 精确解析能力
·520 HOURS 59MIN/STEP 每段可控时间
·50 program共12500step程序记忆容量
·USB2.0储存接口与曲线记录及下载
·全自动控制与安全保护协调系统
·预约启动设定，运转预计结束时间表示，通电时间积算，运行时间积算
·牌结束规划（程序连接,转到定值，停机等）
·可通过因特网远距离监控机器运行情况，及远程操控机器）
控制精度 | 温度:±0.3%F.S+1digit，湿度：±1.0%RH+1digit，压力：±0.2%F.S+1digit |
分辨率 | 温度：0.1，湿度：0.1，压力:0.1 |
测定周期 | 0.6秒（温度、湿度各0.3秒） |
程序组容量 | 50PATTERN（组）/12500STEP（段） |
STEP（段）时间 | 0-520H59M可调 |
循环次数 | 每组程序可设1-32000次（小循环可设1-32000次） |
TROUBLEIN | 全机报警动作相关处理咨询 |
历史数据表示 | PV实际值/SV设定值按采样周期记录保存 |
1.曲线，历史数据可由USB按日期选择拷贝 | |
2.按60秒采样，可记录保存60天数据及曲线 | |
通信机能 | 附标准RS-232接口或因特网联机界面（需订货时说明） |
试验名称登录 | 可任意登录250组中英文试验名称 |
LCD背光灯及屏幕锁 | 背光灯保护0-99分可设，凭权限密码进入 |
内存 | 数据记忆保存EEPROM （可保存15年以上） |
附加功能 | 预约起动设定，通电时间积算，运转时间积算，结束规划等 |
HAST加速老化试验箱--符合标准
IEC 60068-2-66-1994环境试验第2-66部分:试验方法试验Cx:稳态湿热(不饱合加压蒸汽)
JESD 22-A102-B加速抗潮性.非偏离的高压灭菌器
EIAJED4701
EIA/JESD22
GB/T 2423.40-2013环境试验 第2部分：试验方法 试验Cx：未饱和高压蒸汽恒定湿热
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