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LeicaDMI3000B数码显微镜

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更新时间:2022-10-28 09:56:35浏览次数:275

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产品简介

LeicaDCM8光学表面测量系统采用的非接触式三维光学表面测量技术,融合了高清晰度共聚焦显微镜和干涉测量技术的多功能双核系统,提高工作效率。

详细介绍

具有更高的精确度和可重复性

您所查看的产品表面是否具有比较陡峭的坡度还是具有复杂的形貌?使用高清共聚焦显微镜能够实现2纳米的垂直分辨率。您所查看的产品平面是否非常平整但具有非常微小的尖峰和凹坑?可从以下三种干涉测量模式中选择:垂直扫描干涉测量(VSI);相移干涉测量(PSI)或者适用于分辨率高达0.1纳米的扩展相移干涉测量(ePSI)。如果您需要快速绚丽的高清二维图像,则Leica DCM8可提供明视场模式和暗视场模式。

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