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纳米傅里叶红外光谱仪
应用案例:
对纳米尺度污染物的化学鉴定
AFM表面形貌图像 (左), 在Si片基体(暗色区域B)与PMMA薄膜(A)之间可以观察到一个小的污染物。机械相位图像中(中),对比度变化证明该污染物的是有别于基体和薄膜的其他物质。将点A和B的nano-FTIR 吸收光谱(右),与标准红外光谱数据库对比, 获得各部分物质的化学成分信息. 每条谱线的采集时间为7min
nano-FTIR 可以应用到对纳米尺度样品污染物的化学鉴定上。下图显示的Si表面覆盖PMMA薄膜的横截面AFM成像图,其中AFM相位图显示在Si片和PMMA薄膜的界面存在一个100nm尺寸的污染物,但是其化学成分无法从该图像中判断。而使用nano-FTIR在污染物中心获得的红外光谱清晰的揭示出了污染物的化学成分。通过对nano-FTIR获得的吸收谱线与标准FTIR数据库中谱线进行比对,可以确定污染物为PDMS颗粒。
纳米傅里叶红外光谱仪技术参数配置:
■ 反射式 AFM-针尖照明 ■ 标准光谱分辨率: 6.4/cm-1 ■ 无背景探测技术 ■ 基于优化的傅里叶变换光谱仪 ■ 采集速率: Up to 3 spectra /s | ■ 高性能近场光谱显微优化的探测模块 |
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