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济南三泉中石实验仪器有限公司


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薄膜材料的厚度是用什么仪器测试?

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厂商性质生产商

所  在  地济南市

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更新时间:2023-12-31 13:26:10浏览次数:105次

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产品简介

薄膜材料的厚度是用什么仪器测试?薄膜材料的厚度测试可以用电脑式薄膜测厚仪CHY-U,该仪器主要用于薄膜、电池隔膜、太阳能电池硅片、纸张、胶带等硬质和软质材料厚度精确测量。是一款超高测试误差的全自动测厚仪,测厚仪被广泛应用于质检机构、薄膜生产厂家、光伏厂等单位。

详细介绍

    当今微电子薄膜,光学薄膜,抗氧化薄膜,巨磁电阻薄膜,高温超导薄膜等在工业生产和人类生活中的不断应用,在工业生产的薄膜,其厚度是一个非常重要的参数,直接关系到该薄膜材料能否正常工作。如大规模集成电路的生产工艺中的各种薄膜,由于电路集成程度的不断提高,薄膜厚度的任何微小变化,对集成电路的性能都会产生直接的影响。除此之外,薄膜材料的力学性能,透光性能,磁性能,热导率,表面结构等都与厚度有着密切的。那么薄膜材料的厚度是用什么仪器测试

薄膜材料的厚度测试仪 电脑式薄膜测厚仪CHY-U

薄膜材料的厚度测试仪 电脑式薄膜测厚仪CHY-U

    薄膜材料的厚度测试可以用电脑式薄膜测厚仪CHY-U,该仪器主要用于薄膜、电池隔膜、太阳能电池硅片、纸张、胶带等硬质和软质材料厚度精确测量。是一款超高测试误差的全自动测厚仪,测厚仪被广泛应用于质检机构、薄膜生产厂家、光伏厂等单位。该仪器采用微电脑控制、大液晶显示;手动、自动双重测量模式,配备高精度传感器,测量头自动升降,避免了人为因素造成的系统误差,保证了测试误差。仪器自动保存zui多100组测试结果,打印zui大值、zui小值、平均值及每次测量结果,方便 用户分析数据。

    薄膜材料的厚度测试用电脑式薄膜测厚仪CHY-U的技术参数:

    测量范围           0-2mm (其他量程可定制

    分辨率             0.1um

    测量速度           10次/min(可调)

    测量压力           17.5±1kPa(薄膜);100±1kPa(纸张)

    接触面积           50mm²(薄膜),200mm²(纸张) 注:薄膜、纸张任选一种

    进样步矩           0 ~ 1300 mm(可调)

    进样速度           0 ~ 120 mm/s(可调)

    机器尺寸           450mm×340mm×390mm (长宽高)

    重    量             23Kg

    工作温度             15℃-50℃

    相对湿度             zui高80%,无凝露

    试验环境             无震动,无电磁干扰

    工作电源             220V 50Hz

    济南三泉中石实验仪器有限公司生产的电脑式薄膜测厚仪CHY-U是专门用来检测薄膜材料的厚度的仪器,本公司还生产薄膜的拉伸强度、撕裂强度、落镖冲击强度、热合强度等物理性检测仪器,如果您对这些仪器感兴趣请致电三泉中石销售部。

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关键词:测厚仪 传感器

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