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纳米级数显测量比较仪 JDS-2 详细摘要: ■产品简介本仪器由传感器、测量支架、计算机三部份组成。此处的计算机也就是数据采集显示箱。仪器工作时,计算机可以通过传感器把位移数据采集到存储器内,并进行处理和显...
产品型号: 所在地: 更新时间:2021-03-15 参考价: 面议 在线留言 -
立式光学计测量系统 JDG-PC 详细摘要: DG-PC立式光学计软件分析系统是我厂新开发的高性价比,具有高精度、数据记忆、数据处理等特点的软件。此软件采用标准232串口对数据进行采集。它具有的电脑记忆及处...
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立式接触式干涉仪JDS-1 详细摘要: 立式接触式干涉仪JDS-1是一种采用量块或标准零件借以高精度的比较方式的立式精密长度计量仪器。主要用于150mm以下块规,亦可用作高精密度的长度和外径的精密测量...
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机械式比较仪 JSN-1A 详细摘要: 机械比较仪适用于测量工件的几何尺寸和形位偏差,特别是检定工件的跳动量,并可用比较法测量长度。比较仪仪校验台是机械比较仪用的校验台架,与量块配合使用可测定比较仪的...
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数字式立式光学计 JDG-S2 详细摘要: 数字式立式光学计JDG-S1是一般是用标准器(如量块)以比较法测量工件的尺寸。主要用于对五等量块,量棒,钢球,线形及平行平面状精密量具和零件的外形尺寸作精密测量...
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立式光学计 LG-1 详细摘要: 立式光学计LG-1是一采用量块或标准零件与试件相比较的方式来测量物体外形尺寸的仪器.主要用于五等精度量块,一级精度柱型规以及各种圆柱形、球形、线形等物体的直径或...
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