双折射仪的系统特点

    双折射仪能精确测定光学波片的光程差、确定光学玻璃的应力级别，是光学仪器制造业不可缺少的仪器，也是研究晶体矿物质的重要工具，广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。

    仪器是用来检查透明物体内应力大小和分布状况的仪器。不仅在光学玻璃、光学仪器、玻璃制品、塑料制品等工业得到广泛应用，而且在建材、灯具、制药、饮料、工艺品安全防爆指标的检验方面也占有重要地位，在水晶饰品制作、地质矿产、材料科学领域也有不少应用。同时，本仪器也是各大专院校特别理想的教学实验设备。

    一般的光学材料都是均匀的各向同性的，也就是说无论光从哪个方向穿过材料，其折射率都保持一致。对于单轴材料来说，例如方解石 ，其晶轴定义了材料的对称轴。这类材料对光线的偏折能力随入射光的偏振态及入射光与晶轴的夹角不同而不同。因此对于任意一束光，两个正交的偏振态下可能存在不同的折射角。这种现象称为光的双折射。

    双折射仪系统特点：

    1、操作简单/快速测定：独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布。

    2、2D数据的多方面分析功能：二维数据的强大分析功能，能够直观解释被测样品的特性。

    3、大相位差测试能力：通过对三组不同波长的测量数据进行计算，WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。