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日立SFT-110型X射线荧光镀层厚度测量仪 日立（SEA1000AII、EA1000AIII、E日立SFT-110型X射线荧光镀层厚度测量仪 日立（SEA1000AII、EA1000AIII、E日立SFT-110型X射线荧光镀层厚度测量仪 日立（SEA1000AII、EA1000AIII、E日立SFT-110型X射线荧光镀层厚度测量仪 日立（SEA1000AII、EA1
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应对WEEE & RoHS、ELV等有害物质相关法规。
应对ASTM F963,EU_EN71美国和欧盟的玩具法规和指令，保证产品和用料的绿色环保。
岛津EDX-720Ｘ射线荧光分析装置是使用Ｘ射线照射样品，对产生的荧光Ｘ射线的能量进行检测，测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析，广泛应用于各个领域。特别是Z近，以欧盟的报废电子电气设备指令（WEEE）、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令（RoHS）、报废汽车指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法规为代表的绿色采购及环境分析之中，要求更为微量、更为迅速的分析。
为满足这种需求，的EDX-720系列达到了更高的灵敏度与精度。
日立SFT-110型X射线荧光镀层厚度测量仪
日立（SEA1000AII、EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX、SFT-110、FT-110、FT9355、FT9550、SFT9500X、SFT9550X）SFT-110系列产品,搭载了高性能X射线管，实现了高精度的测定。SFT-110极微小准直管和可变焦距光学系统的组合，实现了对极微小部分的测定。对有段差的样品也适用。
1．SFT-110搭载了50W高性能X射线管。
2．SFT-110搭载标准的Φ50μm微小准直管（zui小Φ15μm）。
3．容易对微小领域进行观察。SFT-110搭载了能4阶段切换的可变焦距光学系统。
4．依据照明能很容易对以前观察困难的样品进行观察。
5．SFT-110搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器。
6．搭载了焦点切换功能，FT-110能够对有高度的样品的低部分进行测定。
7．SFT-110利用伺服马达精确的驱动平台。
7．SFT-110运用激光聚焦功能简单实现位置的调整。
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