光电耦合器pct老化试验箱

　　一、光电耦合器pct老化试验箱( 樊S)符合标准概要：

　　高压加速老化试验箱符合标准zui主要是测半导体主要的作用就是测试半导体的封装湿气的能力,它的有着非常精确的测试能力,非常快,并且他的全程自动可以使得在测试过程中更加的方便快捷测产品被置于严苛之温度,湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,在常见的故障方式是主动的金属花区域所造成的腐蚀或者是短路,或者是封装体在因脚间因为污染造成的短路,广泛应用与线路板多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力与工作应力,加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。,

　　二、主要参数:

　　a.温度范围:+100℃～+132℃.

　　b.温度波动度:±0.5℃.

　　c.温度均匀度:±1.5℃.

　　d.湿度范围:*R.H饱和蒸气.

　　e.湿度波动度:±1.5%R.H.

　　f.湿度均匀度:±3.0%R.H.

　　g.压力范围：+0～2.0./2.5/3.0/3.5/4.0kg/cm2.(供选择)

　　h.循环方式:水蒸气自然对流循环.

　　i.测时间设置：0～999Hr.

　　j.加压时间：0.00kg/cm2～2.00kg/cm2约45分钟.

　　k.光电耦合器pct老化试验箱满足：在温度110度、湿度90%，压力2个大气压，或者温度120度、湿度95%、压力1.2个大气压时可有效测试.

　　j.升温时间:由100℃升至+132℃约10分钟非线性空载.

　　m.温度变化速率为空气温度平均变化速率,而非产品温度变化速率.

　　三、高温结构:

　　1.圆型内箱，不锈钢圆型试验内箱结构，符合工业安全容器标准，可防止试验中露滴水设计。

　　2.圆幅内衬，不锈钢圆幅型内衬设计，可避免蒸气潜热直接冲击试品;

　　3.精密设计，气密性良好，耗水量少，每次加水可连续200h;

　　4.自动门禁，圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制，安全门把设计，内有大于常压时测试们会被反压保护;

　　5.型packing，箱内压力愈大时，packing会有反压会使其与箱体更紧密结合，与传统挤压式*不同，可延长packing寿命。

　　6.实验开始前之真空动作可将原来箱内之空气抽出并吸入过滤蕊过滤之新空气(partical<1micorn)。以确保箱内之纯净度;

　　7.临界点LIMIT方式自动安全保护，异常原因与故障指示灯显示。

　　符合标准仪器特点：

　　1,实验过程不需要任何的操作,全程都是自动的,方便快捷。

　　2,有着好的三重压力安全保护装置,采用控制器内部两段式超温保护机械式压力安全保护装置。

　　3,有着手动安全保护排压伐,警急安全装置两段式自动排压伐,有了安全装置,在操作过程中,可以减少不必要的损失。

　　4,符合标准内有着非常好的双重过热保护装置：当锅内温度过高时,机器鸣叫警报并自动切断加热电源,减少损失,使得机体的寿命大大的增加。

　　5,采用了的温度控制器,相比以前这款LED数字型温度控制器能够更加的精确试验温度设定,有着PID的控制能够把误差缩小到±0.1℃。

　　6,好的LED数字型定时器,当锅内温度到达后才开始计时以确保试验*。

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