箔片厚度测试仪 高精度测厚仪 膜厚测量仪

产品名称：箔片厚度测试仪 高精度测厚仪 膜厚测量仪
产品型号：C640
产品报价：济南兰光详询！
产品介绍：箔片厚度测试仪 高精度测厚仪 膜厚测量仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

产品特点：
专业——Labthink在不断的创新研发和技术积累中推陈出新，使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术，实现的测试稳定性、重复性及精度。
高效——采用高效率、自动化结构设计，有效简化人员参与过程；智能的控制及数据处理功能，为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理。
智能——搭载Labthink版控制分析软件，具有友好的操作界面、智能的数据处理、严格的人员权限管理和安全的数据存储；支持Labthink*的DataShieldTM数据盾系统注3（可选配置），为用户提供极为安全可靠的测试数据和测试报告管理功能。

测试原理：
将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。

技术参数：
C640M
测试范围（标配）        0～2mm
分辨率                  0.1μm
重复性                  0.8μm
测量范围（选配1）       0～6mm
测量范围（选配2）       0～12mm
测量间距                0～1000（可设定）mm
进样速度                1.5～80（可设定）mm/s
测量方式机械接触式
测量压力及接触面积薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2
纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2
C640H
测试范围（标配）        0～2mm
分辨率                  0.1μm
重复性                  0.4μm
测量范围（选配1）       0～6mm
测量范围（选配2）       0～12mm
测量间距                0～1000（可设定）mm
进样速度                1.5～80（可设定）mm/s
测量方式机械接触式
测量压力及接触面积薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2
纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2

参照标准：
ISO 4593、ISO 534、ASTM/D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM/D374、ASTM /D1777、ASTM/D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702
中国《药品生产质量管理规范》（GMP）对软件的有关要求（可选配置）
ISO 4593-1993 塑料薄膜和薄板机械扫描测定厚度
ISO 534-2011 纸和纸板--厚度、密度和比容积的测定
ISO 3034-2011 瓦楞纸板--单张厚度的测定
GB/T 6672-2001 塑料薄膜和薄片厚度测定机械测量法
GB/T 451.3-2002 纸和纸板厚度的测定
GB/T 6547-1998 瓦楞纸板厚度的测定法
ASTM/D374-1999 固体电工绝缘材料厚度的试验方法
ASTM/D1777-1996(2007) 纺织材料厚度试验方法
JIS K6250-1997 硫化橡胶及热可塑性橡胶的物理试验方法通则
JIS K6783-1994 农业用乙烯乙酸乙烯共聚物薄膜
JIS Z1702-1994 包装用聚乙烯薄膜
TAPPI T411、BS 3983、BS 4817