薄膜测厚仪包装薄膜厚度测量仪

包装薄膜主要是起着产品保护作用，商家为了方便运输，往往在产品上包裹上一次薄膜。包装薄膜的厚度不均匀的话就可能对薄膜的物理性能造成影响。为了保证运输包装的可靠性，济南辰驰试验仪器有限公司研发生产了薄膜测厚仪包装薄膜厚度测量仪。

薄膜测厚仪包装薄膜厚度测量仪

　　一个小小的塑料包膜，如果薄膜的整体厚度均匀性差，其中各层树脂的厚度分布也会存在差异。毫无疑问，对涂层厚度的检测将更有利于有效控制薄膜各层的厚度均匀性，但对于多层薄膜若想精确测量每一涂层的厚度，在相应的厚度检测设备上就需要有非常大的投资，并随着薄膜层数的增长而加大，给企业带来较大的经济负担。济南辰驰试验仪器有限公司的性价比高，价格便宜，是理想的检测设备。

　　技术参数

　　测量范围:0-2mm （其他量程可定制

　　分辨率:0.1um

　　测量速度:10次/min（可调）

　　测量压力:17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）

　　接触面积:50mm2（薄膜），200mm2（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种

　　进样步矩:0 ～ 1300 mm(可调)

　　进样速度:0 ～ 120 mm/s(可调)

　　机器尺寸:330mm×285mm×370mm (长宽高)

　　重量:38Kg

　　工作温度:15℃-50℃

　　相对湿度:zui高80%,无凝露

　　试验环境:无震动，无电磁干扰

　　工作电源:220V 50Hz

　　包装薄膜厚度测量仪满足GB/T6672（塑料薄膜与薄片厚度的测定机械测量法）、GB/T451.3(GB/T451.3纸张和纸板厚度测定方法)、GB/T6547（瓦楞纸板的厚度测量准则）、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4       817GB/T 6618-2009《硅片厚度和总厚度变化测试方法》 等各项国家标准要求。