Genius IF 超级荧光光谱仪

Genius IF 超级荧光光谱仪仪器特点

集成电脑系统

高分辨率硅漂移探测器

高功能X射线光管，检测光斑尺寸可变，专为适应多尺寸的样品而设计

Genius IF有着结构，由8个二次靶和 8个定制的光管滤管片相结合，提高激发效果，确保快速精确地测定微量元素。

WAG（广角结构）的二次靶技术能地分析高含量、低含量及微量元素。

X射线管激发的二次靶（纯元素）K特征线，可做到“单色”激发样品。

使用二次靶有效降低某些元素的检出限。极低的检出限使得Genius IF应用更为广 泛，能进入传统EDXRF无法使用的领域，成为一款功能强大的元素分析仪。

Genius IF 同样可在经典的直接激励模式下操作，这款光谱仪既可用于传统的实验室，由于其紧凑坚固的结构设计，它还可成为移动实验室的理想选择。它符合冲击试验的MIL 810E规格。

硅漂移探测器(SDD): 硅漂移探测器具有高分辨率和高计数率，分辨率低至123eV,具有更快的响应速度和小化的操作时间。

SDD LE: 超薄的探测器窗口提供性能*的低能元素（轻元素）分析。

Genius IF 超级荧光光谱仪技术参数

测量范围：SDD系列：F(9)至Fm(100)或SDD LE 系列：C(6)至Fm(100)

元素测量范围：1ppm~*

X-光管靶材：Rh/Ag/Mo/W/Pd 可选

X-射线源：50kV,50W

激发模式：直接激发和二次靶激发

稳定性：室温条件下精确到0.05至0.1%

探测器：硅漂移探测器（SDD）或（SDD  LE）

视窗：铍窗&轻元素优化薄窗

滤光片：8款可选

分辨率：125ev±5ev

自动进样器：8位（16位可选）

工作条件：空气/真空/氦气

尺寸：22 x 22cm, H=5cm

尺寸（L×W×H，cm）：内包装: 55 x 55 x 32, 外包装: 80 x 80 x 65

重量：50kg (净重), 90kg (毛重)

控制系统

电脑：集成PC系统

软件：在Microsoft Windows™ OS 操作系统上运行的nEXt™ 分析包+基础基本参数.

控制：自动控制激发，检测，样品处理和数据处理

光谱处理：自动逃逸峰和移除背景. 自动反重叠峰值. 图表统计

定量分析算法：元素间校正的多元回归分析法 (6 种可用模型). 毛重，净重，匹配和数字滤波强度法

报告输出：用户自定义数据打印输出

仪器创新点

*拥有二次靶激发模式的台式X射线荧光光谱仪，拥有技术的广角几何加上8个二次靶及8款可订制的滤光片，可准确测定微量和痕量元素，硅漂移 (SDD)探测器具有高能量分辨率和高计数率，能量分辨率低至123Ev.

主要应用

采矿、金属冶炼、环境保护、石油化工、放射性物质检测、材料研究