X射线荧光光谱仪

X射线荧光光谱仪的微焦斑X射线光管，即使光斑尺寸小到100µm也可以产生足够的射线强度，光斑大小取决于所使用的准直器。

采用视频显微镜进行准确定位，可以测量任何想测的位置。可选计算机控制的自动样品台，并自动聚焦。
不管您是根据标准来控制样品的质量，还是测量*未知样品的组成，XSpect分析软件都提供了合适的工具：对于块状样品和多层膜样品，进行有标样定量和无标样定量（基本参数法）。点击一下鼠标就可以自动进行重复测量。

M1 MISTRAL可配两种不同类型的探测器：大面积的充气正比计数器，可用于质量控制中的标准应用；或者配置硅漂移探测器，具有超快的检测速度和非常好的能量分辨率，检出限可以达到0.01%。*的探测器、数字脉冲处理器及优化的几何结构，确保了X射线探测的大效率，以快速地得到准确的分析结果。

M1 MISTRAL及其软件的设计，让操作人员只需经过简单培训即可使用。

仅一个电源接口就可以运行仪器，采用空气冷却，无需消耗品。坚固的结构确保高的稳定性，并且*免维护。

X射线荧光光谱仪技术参数

M1 MISTRAL根据所配探测器不同分为二种型号：正比计数器（PC）型和高分辨的硅漂移探测器（SDD）型

                               M1 MISTRAL(PC)                                                                    
激发源                  高性能微焦斑光管，W靶，玻璃窗                                         
电压及功率         40 kV, 40 W                                                                                 
探测器                 大面积正比计数器，1100 mm²感应面积                              
光斑尺寸             准直器交换器，0.3 mm或以上                                               
样品观察            高分辨彩色摄像系统，放大倍数20-40倍                                
样品台                马达驱动Z方向样品台，自动对焦。                                       

                           选项：马达驱动X-Y-Z样品台，自动对焦，便捷进样功能

定量分析             块状样品：基于标样的经验系数法模型和无标样模型       

                             镀层分析：基本参数法模型                                                    
电源：               110 to 230 V AC; 50/60 Hz, 大功率100 W                         
尺寸（宽x深x高）550 x 700 x 430 mm                                                           
重量                  46 kg    

                         M1 MISTRAL(SDD)

激发源             高性能微焦斑光管，W靶，玻璃窗

电压及功率     50 kV, 50 W

探测器             电制冷高性能XFlash® 硅漂移探测器，30 mm²感应面积，对Mn-Ka能量分辨率小于150 eV

光斑尺寸         准直器交换器，0.5 mm或以上

样品观察         高分辨彩色摄像系统，放大倍数20-40倍

样品台             马达驱动X-Y-Z样品台，自动对焦，便捷进样功能。

定量分析         块状样品：基于标样的经验系数法模型和无标样模型

                         镀层分析：基本参数法模型

电源：             110 to 230 V AC; 50/60 Hz, 大功率120 W

尺寸（宽x深x高）550 x 700 x 430 mm

重量                50 kg